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新一代集成电路测试系统研发成功
2014-02-28

    近日,设备部历经一年时间,成功研发出新一代集成电路测试系统,并将该系统命名为“MIT300”。该系统未来将广泛用于公司测试部芯片测试和成品测试。该系统是以公司的产品特色为设计基础,并在此基础上进行优化和提升的测试系统。

    MIT300在兼顾原有A690机型的基础上,设计了独特的usb控制板、数据采集式测试方案、双通道独立测试系统,体积只有原来1/3,测试效率却提升2到4倍。设备部经理连高城介绍说:“我们在研发的过程中不仅注重测试系统的性能提升,还在成本上做文章,它的成本只有市场上普遍的测试系统的10%。而且我们研发的MIT300测试系统紧密结合友旺电子的产品特色,使之更具针对性和高效性。”

    据悉,测试部将逐步装机10套,同时设备部进一步研发下一代测试机,体积将再缩小一倍,效率提升2倍。今后还要把测试机作为公司的独立产品推向市场。